測(cè)鍍層X熒光光譜儀測(cè)鍍層X熒光光譜儀 規(guī)格：
1.元素分析范圍:硫-鈾（S-U）
2.元素含量分析范圍：1PPM~99.99%
3.zui低檢出限：1PPM
4.鍍層檢驗(yàn)厚度：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）
5.樣品腔尺寸：150*120*50（MM)
測(cè)鍍層X熒光光譜儀 應(yīng)用領(lǐng)域：
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環(huán)保檢測(cè)
24小時(shí)全國(guó)服務(wù)熱線：
021-34701125 3470112624小時(shí)全國(guó)服務(wù)熱線：
021-34701125 34701126
型號(hào)：TRF5000
產(chǎn)品時(shí)間：2024-08-30
簡(jiǎn)要描述：
測(cè)鍍層X熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域：鍍層成分分析鍍層厚度分析鍍層環(huán)保檢測(cè)
Product catalog
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1.元素分析范圍:硫-鈾（S-U）
2.元素含量分析范圍：1PPM~99.99%
3.zui低檢出限：1PPM
4.鍍層檢驗(yàn)厚度：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）
5.樣品腔尺寸：150*120*50（MM)
測(cè)鍍層X熒光光譜儀 應(yīng)用領(lǐng)域：
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環(huán)保檢測(cè)
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